介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

價格
¥13,500.00

型號
GCSTD-A/B

品牌
北京冠測精電儀器設(shè)備有限公司

所在地
暫無

更新時間
2024-12-20 08:57:35

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    儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的0值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。

       

       

    GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀


    主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)


    應(yīng)用對象:該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。


    滿足標(biāo)準(zhǔn):

    GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法

    GB/T 5654-2007液體絕緣材料 相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量

    GB/T 21216-2007絕緣液體 測量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法

    GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

    GB/T 5594.4-1985__電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法介質(zhì)損耗角正切值的測試方法

    GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)

    損耗因數(shù)的方法

    ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法


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