鍍金鍍鎳膜厚檢測(cè)儀下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過對(duì)X射線熒光的分析確定被測(cè)樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識(shí)，對(duì)每一種化學(xué)元素的原子來說，都有其特定的能級(jí)結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為電子，這時(shí)原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)。此時(shí)，其他的外層電子便會(huì)填補(bǔ)這一空位，即所謂的躍遷，同時(shí)以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級(jí)結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測(cè)定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強(qiáng)弱（或者說X射線光子的）則代表該元素的含量或厚度。 鍍金鍍鎳膜厚檢測(cè)儀是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從S到U。 可靠性高：由于測(cè)試過程無人為因素干擾，儀器自身分析、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的可靠性更高。 滿足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種的分析方法，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。 鍍金鍍鎳膜厚檢測(cè)儀可用于連接器、汽車配件、線路板、半導(dǎo)體等行業(yè)。根據(jù)鍍層測(cè)厚儀技術(shù)分類，測(cè)厚儀產(chǎn)品包含：XRF鍍層測(cè)厚儀、電解式鍍層測(cè)厚儀、渦流鍍層測(cè)厚儀、磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀等多種鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品。根據(jù)鍍層測(cè)厚儀的外形分類，測(cè)厚儀包含：手持式鍍層測(cè)厚儀、臺(tái)鍍層式測(cè)厚儀。電鍍層鍍層測(cè)厚儀它能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理；分析時(shí)間短，僅為數(shù)幾十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到50μm。電鍍鍍層測(cè)厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液濃度的測(cè)量。X熒光鍍層測(cè)厚儀高：相比化學(xué)分析類儀器，X熒光光譜儀在體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。簡(jiǎn)易：對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。天瑞一直致力于分析儀器事業(yè)，相信天瑞會(huì)為電鍍行業(yè)的客戶提供有競(jìng)爭(zhēng)力的解決方案和服務(wù)。 X熒光鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)-簡(jiǎn)易： 對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。天瑞一直致力于分析儀器事業(yè)，相信天瑞會(huì)為電鍍行業(yè)的客戶提供有競(jìng)爭(zhēng)力的解決方案和服鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。 鍍層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。 X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。