高低溫交變濕熱試驗箱廠家

價格
¥32,500.00

型號
GLH70-408F

品牌
北斗星

所在地
廣東省 東莞市

更新時間
2021-02-20 17:04:51

瀏覽次數(shù)

    高低溫交變濕熱試驗箱廠家、該系列產(chǎn)品廣泛用于航天、航空、信息、電子、儀器儀表等行業(yè)電工產(chǎn)品、材料、零部件設備的寒冷試驗及低溫儲存。

    【簡單介紹】

    高低溫交變濕熱試驗箱廠家
    產(chǎn)品用途
    P系列代表的是采用Q8-902中英文彩色觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制的可程式恒溫恒濕試驗箱.USB曲線記錄,數(shù)據(jù)儲存裝置.
    低濕試驗箱,除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗)..等,

    【詳細說明】

    高低溫交變濕熱試驗箱廠家

    高低溫交變濕熱試驗箱廠家 產(chǎn)品用途

    P系列代表的是采用Q8-902中英文彩色觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制的可程式恒溫恒濕試驗箱.USB曲線記錄,數(shù)據(jù)儲存裝置.

    低濕試驗箱,除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗)..等,去檢測產(chǎn)品本身的適應能力與特性是否改變,以及針對產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上,據(jù)統(tǒng)計,半導體破壞率:59%是由靜電所引起的。
    ※ 需符合國際性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達到國際間量測程序一致性(含測試步驟、條件、方法)避免認知不同,并縮小量測不確定的因素范圍發(fā)生。


    高低溫交變濕熱試驗箱廠家產(chǎn)品特點
    人機對話式觸摸屏輸入系統(tǒng),操作簡單易學,功能強大,并可于LCD畫面上了解程式設定之曲線及監(jiān)測過程;
    可設定程式120組,1200段,循環(huán)次數(shù)可達999次,每段時間*設定99小時59分;
    具有RS232通信接口,可通過PC隨意控制和監(jiān)視,還可選配RS485接口,USB曲線記錄和數(shù)據(jù)儲存裝置,使用便捷;
    具有9組PID參數(shù)調(diào)節(jié),以達到穩(wěn)定、*之控制;
    具有程式修正、清除、預約、啟動、停電、記憶、按鍵鎖定等功能;
    具有多種報警功能,故障發(fā)生同時,可通過熒幕故障顯示,消除故障;
    送風循環(huán)設計,溫濕度分布均勻性佳;
    具有自動防霜裝置的真空雙重玻璃,可清晰觀察試驗箱內(nèi)的試品;
    前置式自動進水裝置,方便增加加濕水。



    高低溫交變濕熱試驗箱廠家 規(guī)范條件
    執(zhí)行標準.*標準分為強制性國標(GB)和性國標(GB/T)
    *標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件
    *標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件
    *標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件

    滿足標準
    國際電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱
    國際電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷
    國際電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱

    美國標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度
    美國標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫
    美國標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫
    美國標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗
    美國標準,MIL-STD810D方法502.2
    美國標準,MIL-STD810方法507.2程序3

    日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)
    日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱
    日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫

    美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗
    美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗
    美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗

    *標準,GB/T 2423.1-2001 低溫
    *標準,GB/T 2423.2-2001 高溫
    *標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法
    *標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗
    *標準,GB/T2423.4-93方法
    以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負責,儀器儀表交易網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
    溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產(chǎn)品前務必確認供應商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。

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