R&S?ZVA 系列產(chǎn)品屬于高端矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，多可支持 4 個(gè)信號源，可以地測量高達(dá) 110 GHz 的信號。需要對高性能、多功能型有源或無源組件和模塊進(jìn)行要求極高的測量時(shí)，該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)品的頻率范圍大可擴(kuò)展至 500 GHz。

主要特點(diǎn)

·帶 4 個(gè)內(nèi)部信號源，頻率高達(dá) 67 GHz，可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量

·具有 4 個(gè)相位相干信號發(fā)生器功能（頻率可高達(dá) 67 GHz）

·中頻帶寬可高達(dá) 30 MHz，可以實(shí)現(xiàn)放大器和混頻器的脈沖測量功能 

·可以對帶或不帶本振接入的混頻器的變頻損耗進(jìn)行相位和群延時(shí)測量

·可以對放大器和混頻器進(jìn)行諧波、壓縮、互調(diào)和 Hot S22測量

·實(shí)現(xiàn)了無噪聲源噪聲系數(shù)定義的新方法

·實(shí)現(xiàn)了脈內(nèi)掃頻測量、脈沖平均掃頻測量和脈沖包絡(luò)測量

·2個(gè)內(nèi)部脈沖發(fā)生器

·通過 R&S^?ZVAX24，實(shí)現(xiàn)了內(nèi)部脈沖調(diào)制器和組合器

·嵌入/去嵌入功能通過虛擬網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)阻抗匹配

·支持真差分測量，可以表現(xiàn)出平衡設(shè)備的非線性效應(yīng)

·多功能校準(zhǔn)技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM 和 AutoCal

R&S^?ZVA 已經(jīng)成為解決絕大多數(shù)極具挑戰(zhàn)性應(yīng)用的里程碑式產(chǎn)品：

一臺頻率可高達(dá) 67 GHz，并且含兩路內(nèi)部源的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量

線性和非線性放大器和混頻器測量

·對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進(jìn)行測量 

·對帶內(nèi)置本振的群延時(shí)和相對相位進(jìn)行測量 

·對混頻器的變頻損耗和互調(diào)進(jìn)行測量 

·對放大器進(jìn)行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進(jìn)行測量

脈沖測量

·一臺頻帶寬高達(dá) 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，用于對工作頻率高達(dá) 67 GHz的放大器和混頻器進(jìn)行脈沖測量

·對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進(jìn)行分辨率高達(dá) 12.5 ns 的脈沖包絡(luò)測量 ? 頻率和功率掃描式的脈內(nèi)測量

一臺工作頻率高達(dá) 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 

·采用真差分模擬，可以快速、簡便地測試平衡待測設(shè)備 

·輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關(guān)系支持用戶自定義

校準(zhǔn) 

·多功能校準(zhǔn)技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM 

·方便、快捷的矢量混頻器校準(zhǔn)功能和帶有“未知通路”校準(zhǔn) UOSM的“適配器去除功能”

一、優(yōu)化的測試和配置時(shí)間，提高了測試速度

大中頻帶寬和寬動態(tài)范圍，使測量更快、更加

R&S^?ZVA 創(chuàng)立了測量速度的新：它將高達(dá) 1 MHz的中頻帶寬（可選 5/10 MHz）和高速合成器結(jié)合在一起，縮短了測量時(shí)間，從而提高了手動調(diào)整和自動化生產(chǎn)過程的效率。在CW 模式下，每個(gè)測試點(diǎn)的測量時(shí)間不到 3.5μs；頻率掃描模式下200 多個(gè)測試點(diǎn)不到 5ms 即可完成。 由于該分析儀的動態(tài)范圍寬、相位噪聲低，因而這種速度優(yōu)勢絲毫不會對測量準(zhǔn)確性產(chǎn)生影響。 借助 R&S^?ZVA 上 100 多個(gè)獨(dú)立信道和配置的跡線，可以在短時(shí)間內(nèi)完成復(fù)雜組件全面的功能測試。 不再需要耗時(shí)地加載新的儀表設(shè)置。 

寬動態(tài)范圍 校準(zhǔn)工作量和校準(zhǔn)時(shí)間—R&S^?ZV-Z5x 自動校準(zhǔn)單元

·采用自動校準(zhǔn)單元，將校準(zhǔn)時(shí)間降低至小

·自動檢測已經(jīng)連接的設(shè)備和端口：無需配置

·工作溫度范圍極寬，預(yù)熱時(shí)間幾乎為零

手動校準(zhǔn)

·羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò)分析儀支持?jǐn)?shù)量多的校準(zhǔn)技術(shù)。 測試裝置的夾具、晶片、PCB、波導(dǎo)或者導(dǎo)線端頭可能需要校準(zhǔn)。 選擇可以支持適用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)技術(shù)。

·系統(tǒng)設(shè)計(jì)有結(jié)構(gòu)清晰的對話框，顯示所有的校準(zhǔn)步驟，確保校準(zhǔn)工作正確無誤。

·校準(zhǔn)期間，錯(cuò)誤的連接僅需重做相應(yīng)的校準(zhǔn)步驟，即，無需從頭開始的重新校準(zhǔn)。

·對于多端口重新校準(zhǔn)，更加省心省力：更換測試儀組件（例如，某個(gè)故障電纜）之后，僅需重新校準(zhǔn)相應(yīng)的通路。

·避免重新校準(zhǔn)：對于后續(xù)測量信道和設(shè)置，可以使用已有的校準(zhǔn)結(jié)果。

并行測量-測量速度比原來快四倍

R&S^?ZVA 的發(fā)生器設(shè)計(jì)，使得每個(gè)測試端口都可以同時(shí)作為信號源和接收機(jī)使用。 因此，可以對測試端口進(jìn)行分組。 在各個(gè)測試端口組上進(jìn)行的測量任務(wù)可以彼此實(shí)現(xiàn)同步。 因而，可以并行地測量多個(gè) DUT 或者一個(gè) DUT 的多個(gè)通路； 測量時(shí)間僅相當(dāng)于測量一個(gè)設(shè)備所需要的時(shí)間。 因此，同時(shí)測量兩個(gè)兩端口DUT時(shí)，速度將提高一倍；同時(shí)測量四個(gè)單端口DUT時(shí)，速度將是原先的四倍。

并行測量-儀器各種設(shè)置之間的快速切換

在同時(shí)分析多個(gè)DUT時(shí)，你再也無需從硬盤逐個(gè)載入所需的儀器設(shè)置。一旦被調(diào)用，設(shè)置將始終保存于RAM中，其中包括計(jì)算獲得的數(shù)據(jù)，例如通過插值獲得的校準(zhǔn)值。 因此，各種設(shè)置之間的切換幾乎不會產(chǎn)生延誤，例如：遠(yuǎn)程控制模式下不到 10 ms 時(shí)間。 而對于傳統(tǒng)儀器來說，設(shè)置的調(diào)用則需要花費(fèi)長達(dá)一秒鐘的時(shí)間。 每個(gè)設(shè)置都用一個(gè)單獨(dú)的測量窗口表示。 需要在不同窗口之間切換時(shí)，只需使用鼠標(biāo)或按動按鍵即可。此外，這種設(shè)計(jì)還可以方便地處理并清晰地顯示大量的測量結(jié)果和跡線。

儀器各種設(shè)置之間的切換-在掃描的同時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸

由于跡線數(shù)據(jù)可在捕獲測量數(shù)據(jù)的同時(shí)通過IEC/IEEE總線或LAN進(jìn)行傳輸，因而 R&S^?ZVA 上的數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間對于重復(fù)測量序列來說微不足道。

信道位和用戶端口——高速控制外部設(shè)備

為了進(jìn)一步縮短自動測試周期，儀器后面板上提供了一個(gè)用于觸發(fā)I/O信號的特殊端口， 這些 I/O 信號可通過 R&S^?ZVA 的內(nèi)部測量序列直接同步測量裝置的外部設(shè)備或 DUT 設(shè)置。諸如“觸發(fā)就緒”等儀表狀態(tài)，可以用作直接控制外部設(shè)備的電信號。由于不需要使用遠(yuǎn)程控制序列，因而節(jié)省了執(zhí)行時(shí)間。

利用分段掃描實(shí)現(xiàn)佳測量速度、準(zhǔn)確性和動態(tài)范圍

分段掃描功能允許將一次掃描分割成數(shù)量不受限制的許多段，每一段的測試點(diǎn)間距、測量帶寬和信號發(fā)生器功率等各分段掃描參數(shù)可單獨(dú)進(jìn)行定義，從而實(shí)現(xiàn)與DUT特性之間的佳匹配。 以此實(shí)現(xiàn)測量速度和準(zhǔn)確度的進(jìn)一步優(yōu)化。

二、直觀的用戶界面和顯示結(jié)構(gòu)

為了更好地滿足用戶需求，羅德與施瓦茨公司的全部網(wǎng)絡(luò)分析儀的所有功能都可以采用前面板按鍵、鼠標(biāo)和鍵盤，或者同時(shí)采用兩者進(jìn)行控制。對話框直觀地顯示儀表設(shè)置和可輸入的參數(shù)。僅需少數(shù)幾個(gè)菜單，就可以完成基本的設(shè)置。 系統(tǒng)設(shè)計(jì)了其它表格和對話框，可以用于更加詳盡的高端設(shè)置。 此外，鼠標(biāo)點(diǎn)擊顯示界面中的參數(shù)區(qū)域時(shí)，會彈出菜單，從中可以選擇目標(biāo)參數(shù) – 采用該功能，可以極其方便、快速地操作 R&S^?ZVA。

虛擬阻抗匹配的參數(shù)化配置網(wǎng)絡(luò)

（重新）配置跡線、信道、標(biāo)度和顯示區(qū)域等

配置時(shí)域測量（TDR）功能

羅德與施瓦茨公司的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要目的是實(shí)現(xiàn)配置的方便與靈活性以及海量測量數(shù)據(jù)（即，跡線和測量信道）的處理能力。 跡線、信道、顯示和設(shè)置等的數(shù)量僅受 PC 內(nèi)存的限制（例如，可支持高達(dá) 100 個(gè)跡線，且每個(gè)跡線多可支持 401 個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)）。 即使是不同信道的跡線，也可以組合在一個(gè)區(qū)內(nèi)，據(jù)此，可以方便地比較使用了不同參數(shù)的測量結(jié)果。 完成設(shè)置之后，所有跡線均可以重新布局、移至不同的區(qū)域，或者分配給不同的信道；更改設(shè)置時(shí)，無需一切從頭開始。 

靈活的信道和跡線布局

三、新式的校準(zhǔn)技術(shù)

多用途校準(zhǔn)技術(shù)，可滿足所有領(lǐng)域的應(yīng)用

R&S^?ZVA 不僅提供傳統(tǒng)的TOSM校準(zhǔn)方法（直通、開路、短路、匹配），而且還提供其他多種校準(zhǔn)技術(shù)。 由于 R&S^?ZVA 的每個(gè)測試端口都配備了一個(gè)單獨(dú)的參考接收機(jī)，因而可以使用的 7-term 校準(zhǔn)技術(shù)，其中包括 TRL/LRL（直通、反射、傳輸線/傳輸線、反射、傳輸線）、TOM（直通、開路、匹配）、TNA（直通、網(wǎng)絡(luò)、衰減器）和 TRM（直通、反射、匹配）。這些校準(zhǔn)技術(shù)適合測試夾具或晶片的校準(zhǔn)。 由于校準(zhǔn)直接在 DUT 參考面上進(jìn)行，因而完全消除了測試夾具產(chǎn)生的影響。

UOSM 校準(zhǔn)技術(shù)極其類似于 TOSM 技術(shù)。但是，前者允許使用未知通路（“U”）作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，即，無需知道某個(gè)通路的參數(shù)（例如，長度或衰減）。 此外，支持各種類型連接器隨意組合的適配器也可用作通路。因此，極大地方便了帶有不同類型連接器的 DUT 的校準(zhǔn)任務(wù)。

使用靈活的校準(zhǔn)套件

任何一種網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量精度均極大地取決于例如長度、容量等所有電氣和機(jī)械參數(shù)。這些參數(shù)決定了幅值和相位響應(yīng)，因而，也決定了校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)中的 S 參數(shù)。 當(dāng)然，必須盡可能準(zhǔn)確地獲得這些參數(shù)。 為了定義校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，必要擁有考慮了可能出現(xiàn)的全部非理想條件的等效電路。 羅德與施瓦茨的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀均配設(shè)有清晰的等效電路圖和建模功能，完全滿足這一需求，可以進(jìn)行詳盡的參數(shù)設(shè)置。

通過電氣延時(shí)、任意阻抗和損耗定義匹配 采用等效電路圖定義匹配，其中，考慮了寄生電感和寄生電容效應(yīng)

除了手動地定義校準(zhǔn)套件之外，也可以通過文件方便地安裝校準(zhǔn)套件 – 甚至可以采用其它提供商的 ASCII 碼文件進(jìn)行安裝。 可以切換至其它提供商所使用的測量單元。

自動校準(zhǔn)――快速、無錯(cuò)誤、高精度

盡管 TOSM、TRM 和 TRL 等手動校準(zhǔn)技術(shù)可用于多端口測量，但是比較耗時(shí)，出錯(cuò)率高，并且校準(zhǔn)裝置磨損嚴(yán)重。 羅德與施瓦茨提供同軸單端口和多端口校準(zhǔn)所需的自動校準(zhǔn)單元，該單元在連接后可立即進(jìn)入工作狀態(tài)，不到30秒時(shí)間可完成201個(gè)測試點(diǎn)的四端口校準(zhǔn)。

四、通信

系統(tǒng)設(shè)計(jì)有各種后面板連接器，用于支持：

· 通過遠(yuǎn)程控制軟件控制儀表

· 采用 R&S^?NRP探頭進(jìn)行直流電壓和功率測量

· 同步功能（例如，參考頻率、外部觸發(fā)器、掃描和觸發(fā)狀態(tài)指示等，用以直接、快速地與外部設(shè)備進(jìn)行交互）。

· 掃描時(shí)間測量：USER CONTROL 端口的針腳 4 指示測量時(shí)間，與菜單“Trigger settings（觸發(fā)器設(shè)置）”中的設(shè)置相對應(yīng)（掃描、掃描段、測試點(diǎn)，或者部分測量）。借助示波器，可以方便地監(jiān)控每一種情況下實(shí)際所需要的執(zhí)行時(shí)間。