8648B HP-8648B二手2G射頻合成信號發(fā)生器

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型號
8648B HP-8648B二手2G射頻合成信號發(fā)生器

品牌
8648B HP-8648B二手2G射頻合成信號發(fā)生器

所在地
廣東省 深圳市

更新時間
2019-02-02 20:10:01

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    Agilent 8648B|HP-8648B 2G射頻合成信號發(fā)生器100kHz-2000MHz

    *在整個2.5GHz范圍內(nèi),電平精度±1dB
    *在500MHz上4Hz的剩余調(diào)頻
    *電子衰減器(1GHz型)
    *輸出功率為+10/+13~-136dBm
    *操作簡單、可靠
    *產(chǎn)生尋呼信令(HP8648A選件1EP)
    *HP8647A和8648A/B/C/D合成信號發(fā)生器
    經(jīng)濟型信號發(fā)生器的佼佼者
    HP8647A和8648A/B/C/D系列合成信號發(fā)生器性能穩(wěn)定、可靠、價格低廉。這幾種信號發(fā)生器具有對接收機進行半自動測試所需的特性,可用于100kHz~4000MHz頻率范圍的多種通用應(yīng)用場合。

    可靠性高、使用簡單
    按照HP公司的嚴格質(zhì)量規(guī)范,這幾種信號發(fā)生器提供穩(wěn)定一致的性能。HP8647A和HP8648A的全電子化衰減器很容易處理上百萬次幅度轉(zhuǎn)換,且輸出電平高度重復(fù)。 便于使用的面板接口能縮短操作者的熟悉過程并提高工作效率。以功能塊方式配置的面板加快了測試程序的建立并簡化操作。

    制造業(yè)和半自動測試的理想儀器
    HP 8647A和8648系列是制造大批量產(chǎn)品如無繩電話、尋呼機和雙向無線電通信臺的理想儀器。HP8647A是提供重要性能的基本型號。HP8648系列除可選用的高功率、脈沖調(diào)制和波形調(diào)制之外,在頻率范圍、剩余調(diào)頻、電平精度和相位噪聲方面都有改進。HP8648系列直到2.5GHz都具有±1dB幅度精度。所有各種型號都提供了穩(wěn)定的直流調(diào)頻、在低于100 MHz的頻率上載頻精度為±500Hz和低的射頻泄漏。
    若干應(yīng)用如接收機調(diào)諧和調(diào)整都受益于簡單的用戶接口。這幾種信號發(fā)生器易于學(xué)和使用,從而不再需要經(jīng)驗豐富的操作人員。由于具有300個全存儲寄存器和10個可由用戶定義的序列,故信號發(fā)生器很容易適應(yīng)任何測試過程。一旦將設(shè)置儲存到寄存器內(nèi),操作人員即可過前面板或遙控鍵盤(HP83300A)迅速對其編程。此外,HP83301A存儲器接口還提供將寄存器信息從一臺HP8647/48傳送至另一臺的手段。
    對于自動測試應(yīng)用場合,HP8647/48提供了完整的GPIB編程和使用SCPI編程碼。此外,HP8648系列通過提供與HP8656B與HP8657A/B信號發(fā)生器完全兼容的GPIB碼而降低了軟件開發(fā)成本。

    經(jīng)濟有效的尋呼機測試新方法
    HP 8648A與選件1EP聯(lián)用為尋呼機測試提供了一種經(jīng)濟的單臺解決方案。選件1EP能為HP8648A增添用于PDCSAG、FLEX和FLEX-TD制式的尋呼機編碼功能。在進行尋呼機測試時,HP8648A與選件1EP聯(lián)用能給出優(yōu)良的頻率精度、頻偏精度和直流調(diào)頻性能。

    主要技術(shù)指標(biāo)
    頻率
    HP8647A:250 kHz~1000 MHz
    HP8648A:100kHz~1000 MHz
    HP8648B:9 kHz~2000 MHz
    HP8648C:9 kHz~3200 MHz
    HP8648D:9 kHz~4000 MHz
    分辨率
    HP8647A:1Hz;
    HP8648A/B/C/D:0.001 Hz
    顯示:10 Hz
    轉(zhuǎn)換速率(典型值)
    HP8647A:<120ms
    HP8648A/B/C/D:<1001 MHz:<75 ms; ≥1001 MHz:<100 ms
    精度(預(yù)熱1小時之后且在1年校準期以內(nèi)):
    典型值為±3×10-6×載波頻率(以Hz為單位);
    對于選件1E5為±0.15×10-6×載波頻率(典型值為±0.072×10-6×fc)
    內(nèi)部基準振蕩器
    精度和穩(wěn)定度(與校準調(diào)整相關(guān),預(yù)熱1小時之后且在1年校準期以內(nèi)), ±老化率±溫度影響±電源電壓影響
     

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