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包郵銷售IM3533日本日置LCR測(cè)試儀上海君達(dá)一級(jí)代理

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電議

型號(hào)

IM3533日本日置LCR測(cè)試儀

品牌

日置

所在地

暫無(wú)

更新時(shí)間

2021-03-29 12:48:29

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

一、日本日置LCR測(cè)試儀IM3533IM3533-01的優(yōu)點(diǎn)

應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域

基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣泛(DC40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。

在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，不間斷測(cè)試，速度比以往產(chǎn)品快10倍。

內(nèi)置的低阻抗高精度模式可有效測(cè)量低感應(yīng)或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻。

(測(cè)量速度是以往產(chǎn)品3522-50的10倍，大大提高了反復(fù)性和穩(wěn)定性)

模式，用于測(cè)量變壓器線圈比率，互感系數(shù)和溫度補(bǔ)償DCR。

頻率掃描測(cè)試(僅IM3533-01)

除標(biāo)準(zhǔn)0m/1m以外的2m/4m電纜設(shè)置。

內(nèi)置比較器和BIN功能。

2毫秒的快速測(cè)試時(shí)間

二、日本日置LCR測(cè)試儀IM3533IM3533-01的基本參數(shù)

?	IM3533	IM3533-01
測(cè)量模式	LCR，變壓器測(cè)試(NM△L)，連續(xù)測(cè)試(LCR模式)	LCR，變壓器測(cè)試(NM△L)，分析儀(掃描測(cè)試)，連續(xù)測(cè)試(LCR/分析模式)
測(cè)量參數(shù)	Z Y θ Rs (ESR) Rp DCR (DC resistance) X G B Cs Cp Ls Lp D (tanδ) Q N M ΔL T
測(cè)量量程	100mΩ～100MΩ10個(gè)量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義)
可顯示量程	ZYRsRpRdcXGBLsLpCsCp: ± (0.000000 [單位] ～9.999999G [單位]) 只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000° to 999.999°) D: ± (0.000000 to 9.999999) Q: ± (0.00 to 99999.99) Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
測(cè)量頻率	1mHz ～200kHz (1mHz ～10Hz步進(jìn))
測(cè)量信號(hào)電平	[輸出阻抗] V模式，CV模式：5mV～5Vrms1mVrms CC模式：10μA～50mArms10μArms [低阻抗高精度模式] V模式，CV模式：5mV～2.5Vrms1mVrms CC模式：10μA～100mArms10μArms
輸出阻抗	正常模式：100Ω低阻抗高精度模式：25Ω
顯示	5.7英寸觸摸屏，彩色TFT，顯示可設(shè)置ON/OFF
測(cè)量時(shí)間	2ms(1kHzFAST顯示OFF，代表值)
功能	DC偏置測(cè)量，DC電阻溫度補(bǔ)償 (轉(zhuǎn)換參考溫度顯示)比較器，BIN測(cè)量(分類功能)節(jié)點(diǎn)負(fù)載/補(bǔ)償，記憶功能
接口	EXT I/O(處理器)，USB通信(高速)，USB存儲(chǔ)? 選件：RS-232CGP-IBLAN任選一
電源	100～240V AC，50/60Hz，大50VA
尺寸及重量	330mm W×119mm H×168mm D 3.1kg
附件	電源線×1，操作手冊(cè)×1，CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1