良益LCL—13臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹
LCL-13型臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀根據(jù)多次反射光譜相干原理,本儀器可提供非接觸測(cè)量薄膜厚度,折射率,吸收系數(shù)等;采用*軟件版本,具有納米級(jí)測(cè)量和方便使用等優(yōu)點(diǎn);測(cè)量方便度和準(zhǔn)確度遠(yuǎn)好于常用光學(xué)橢偏儀。是薄膜研究,光學(xué)鍍膜,和半導(dǎo)體生產(chǎn)不可缺少的測(cè)量研究?jī)x器。
學(xué)會(huì)薄膜和涂層的厚度測(cè)量及折射率和吸收系數(shù)的測(cè)定
其他推薦產(chǎn)品
首頁(yè)| 關(guān)于我們| 聯(lián)系我們| 友情鏈接| 廣告服務(wù)| 會(huì)員服務(wù)| 付款方式| 意見(jiàn)反饋| 法律聲明| 服務(wù)條款
良益LCL—13臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹
LCL-13型臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀根據(jù)多次反射光譜相干原理,本儀器可提供非接觸測(cè)量薄膜厚度,折射率,吸收系數(shù)等;采用*軟件版本,具有納米級(jí)測(cè)量和方便使用等優(yōu)點(diǎn);測(cè)量方便度和準(zhǔn)確度遠(yuǎn)好于常用光學(xué)橢偏儀。是薄膜研究,光學(xué)鍍膜,和半導(dǎo)體生產(chǎn)不可缺少的測(cè)量研究?jī)x器。
良益LCL—13薄膜測(cè)厚儀實(shí)驗(yàn)內(nèi)容學(xué)會(huì)薄膜和涂層的厚度測(cè)量及折射率和吸收系數(shù)的測(cè)定
良益LCL—13臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀配置參數(shù)