詳細介紹  
  
R&S®ZVA 系列產(chǎn)品屬于高端矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，多可支持 4 個信號源，可以地測量高達 110 GHz 的信號。 需要對高性能、多功能型有源或無源組件和模塊進行要求極高的測量時，該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)品的頻率范圍大可擴展至 500 GHz。
的性能(*)
 
寬動態(tài)范圍 典型值 >150 dB   
高輸出功率 典型值 >18 dBm   
高測量速度 每個點 <2 μs   
采樣時間非常短 每個點 430 ns   
測量點數(shù)多 每條跡線多達 60001 個點   
中頻帶寬大 15 MHz（脈沖包絡(luò)測量時為 30 MHz）   
內(nèi)部信號源 2（4 端口型號）   
(*)需使用佳數(shù)據(jù)、特殊選件或 1 Hz IF 帶寬，詳見“規(guī)格簡介”或 R&S®ZVA 參數(shù)表。  
R&S®ZVA 已經(jīng)成為解決絕大多數(shù)極具挑戰(zhàn)性應(yīng)用的里程碑式產(chǎn)品：
臺頻率可高達 67 GHz，并且含兩路內(nèi)部源的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可以快速地對放大器和混頻器進行測量
? 線性和非線性放大器和混頻器測量：
° 對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進行測量
° 對帶內(nèi)置本振的群延時和相對相位進行測量
° 對混頻器的變頻損耗和互調(diào)進行測量
° 對放大器進行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進行測量
? 脈沖測量：
° 臺中頻帶寬高達 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，用于對工作頻率高達 67 GHz的放大器和混頻器進行脈沖測量（詳細內(nèi)容請參見“應(yīng)用”和“選件”）
° 對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進行分辨率高達 12.5 ns 的脈沖包絡(luò)測量
° 頻率和功率掃描式的脈內(nèi)測量
? 臺工作頻率高達 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
° 采用真差分模擬，可以快速、簡便地測試平衡待測設(shè)備
° 輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關(guān)系支持用戶自定義
? 校準
° 多功能校準技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM 
° 方便、快捷的矢量混頻器校準功能和帶有“未知通路”校準 UOSM的“適配器去除功能”
特性：
1.優(yōu)化的測試和配置時間，提高了測試速度 
大中頻帶寬和寬動態(tài)范圍，使測量更快、更加
R&S®ZVA 創(chuàng)立了測量速度的新：它將高達 1 MHz的中頻帶寬（可選 5/10 MHz）和高速合成器結(jié)合在一起，縮短了測量時間，從而提高了手動調(diào)整和自動化生產(chǎn)過程的效率。 在CW 模式下，每個測試點的測量時間不到 3.5μs；頻率掃描模式下200 多個測試點不到 5ms 即可完成。
由于該分析儀的動態(tài)范圍寬、相位噪聲低，因而這種速度優(yōu)勢絲毫不會對測量準確性產(chǎn)生影響。 借助 R&S®ZVA 上 100 多個獨立信道和配置的跡線，可以在短時間內(nèi)完成復(fù)雜組件全面的功能測試。 不再需要耗時地加載新的儀表設(shè)置。
 
寬動態(tài)范圍
小化的校準工作量和校準時間
R&S®ZV-Z5x 自動校準單元
采用自動校準單元，將校準時間降低至?。?/span>
? 自動檢測已經(jīng)連接的設(shè)備和端口：無需配置。
? 工作溫度范圍極寬，預(yù)熱時間幾乎為零。
手動校準
? 羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò)分析儀支持數(shù)量多的校準技術(shù)。 測試裝置的夾具、晶片、PCB、波導(dǎo)或者導(dǎo)線端頭可能需要校準。 選擇可以支持適用校準標準的校準技術(shù)。
? 系統(tǒng)設(shè)計有結(jié)構(gòu)清晰的對話框，顯示所有的校準步驟，確保校準工作正確無誤。
? 校準期間，錯誤的連接僅需重做相應(yīng)的校準步驟，即，無需從頭開始的重新校準。
? 對于多端口重新校準，更加省心省力：更換測試儀組件（例如，某個故障電纜）之后，僅需重新校準相應(yīng)的通路。
? 避免重新校準：對于后續(xù)測量信道和設(shè)置，可以使用已有的校準結(jié)果。
 
并行測量 — 測量速度比原來快四倍
R&S®ZVA 的發(fā)生器設(shè)計，使得每個測試端口都可以同時作為信號源和接收機使用。 因此，可以對測試端口進行分組。 在各個測試端口組上進行的測量任務(wù)可以彼此實現(xiàn)同步。 因而，可以并行地測量多個 DUT 或者一個 DUT 的多個通路； 測量時間僅相當(dāng)于測量一個設(shè)備所需要的時間。 因此，同時測量兩個兩端口DUT時，速度將提高一倍；同時測量四個單端口DUT時，速度將是原先的四倍。
 
并行測量
儀器各種設(shè)置之間的快速切換
在同時分析多個DUT時，你再也無需從硬盤逐個載入所需的儀器設(shè)置。一旦被調(diào)用，設(shè)置將始終保存于RAM中，其中包括計算獲得的數(shù)據(jù)，例如通過插值獲得的校準值。 因此，各種設(shè)置之間的切換幾乎不會產(chǎn)生延誤，例如：遠程控制模式下不到 10 ms 時間。 而對于傳統(tǒng)儀器來說，設(shè)置的調(diào)用則需要花費長達一秒鐘的時間。 每個設(shè)置都用一個單獨的測量窗口表示。 需要在不同窗口之間切換時，只需使用鼠標或按動按鍵即可。 此外，這種設(shè)計還可以方便地處理并清晰地顯示大量的測量結(jié)果和跡線。
 
儀器各種設(shè)置之間的切換
在掃描的同時進行數(shù)據(jù)傳輸
由于跡線數(shù)據(jù)可在捕獲測量數(shù)據(jù)的同時通過IEC/IEEE總線或LAN進行傳輸，因而 R&S®ZVA 上的數(shù)據(jù)傳輸時間對于重復(fù)測量序列來說微不足道。
信道位和用戶端口——高速控制外部設(shè)備
為了進一步縮短自動測試周期，儀器后面板上提供了一個用于觸發(fā)I/O信號的特殊端口， 這些 I/O 信號可通過 R&S®ZVA 的內(nèi)部測量序列直接同步測量裝置的外部設(shè)備或 DUT 設(shè)置。諸如“觸發(fā)就緒”等儀表狀態(tài)，可以用作直接控制外部設(shè)備的電信號。由于不需要使用遠程控制序列，因而節(jié)省了執(zhí)行時間。
利用分段掃描實現(xiàn)佳測量速度、準確性和動態(tài)范圍
分段掃描功能允許將一次掃描分割成數(shù)量不受限制的許多段，每一段的測試點間距、測量帶寬和信號發(fā)生器功率等各分段掃描參數(shù)可單獨進行定義，從而實現(xiàn)與DUT特性之間的佳匹配。 以此實現(xiàn)測量速度和準確度的進一步優(yōu)化。
2.直觀的用戶界面和顯示結(jié)構(gòu)
為了佳地滿足用戶需求，羅德與施瓦茨公司的全部網(wǎng)絡(luò)分析儀的所有功能都可以采用前面板按鍵、鼠標和鍵盤，或者同時采用兩者進行控制。對話框直觀地顯示儀表設(shè)置和可輸入的參數(shù)。僅需少數(shù)幾個菜單，就可以完成基本的設(shè)置。 系統(tǒng)設(shè)計了其它表格和對話框，可以用于更加詳盡的高級設(shè)置。 此外，鼠標點擊顯示界面中的參數(shù)區(qū)域時，會彈出菜單，從中可以選擇目標參數(shù) – 采用該功能，可以極其方便、快速地操作 R&S®ZVA。
 
虛擬阻抗匹配的參數(shù)化配置網(wǎng)絡(luò)
 
（重新）配置跡線、信道、標度和顯示區(qū)域等
 
配置時域測量（TDR）功能
羅德與施瓦茨公司的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要目的是實現(xiàn)配置的方便與靈活性以及海量測量數(shù)據(jù)（即，跡線和測量信道）的處理能力。 跡線、信道、顯示和設(shè)置等的數(shù)量僅受 PC 內(nèi)存的限制（例如，可支持高達 100 個跡線，且每個跡線多可支持 401 個數(shù)據(jù)點）。 即使是不同信道的跡線，也可以組合在一個區(qū)內(nèi)，據(jù)此，可以方便地比較使用了不同參數(shù)的測量結(jié)果。 完成設(shè)置之后，所有跡線均可以重新布局、移至不同的區(qū)域，或者分配給不同的信道；更改設(shè)置時，無需一切從頭開始。
 
靈活的信道和跡線布局
3.新式的校準技術(shù)
多用途校準技術(shù)，可滿足所有領(lǐng)域的應(yīng)用
R&S®ZVA 不僅提供傳統(tǒng)的TOSM校準方法（直通、開路、短路、匹配），而且還提供其他多種校準技術(shù)。 由于 R&S®ZVA 的每個測試端口都配備了一個單獨的參考接收機，因而可以使用的 7-term 校準技術(shù)，其中包括 TRL/LRL（直通、反射、傳輸線/傳輸線、反射、傳輸線）、TOM（直通、開路、匹配）、TNA（直通、網(wǎng)絡(luò)、衰減器）和 TRM（直通、反射、匹配）。這些校準技術(shù)適合測試夾具或晶片的校準。 由于校準直接在 DUT 參考面上進行，因而完全消除了測試夾具產(chǎn)生的影響。
UOSM 校準技術(shù)極其類似于 TOSM 技術(shù)。但是，前者允許使用未知通路（“U”）作為校準標準，即，無需知道某個通路的參數(shù)（例如，長度或衰減）。 此外，支持各種類型連接器隨意組合的適配器也可用作通路。因此，極大地方便了帶有不同類型連接器的 DUT 的校準任務(wù)。 
使用靈活的校準套件
任何一種網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量精度均極大地取決于例如長度、容量等所有電氣和機械參數(shù)。這些參數(shù)決定了幅值和相位響應(yīng)，因而，也決定了校準標準中的 S 參數(shù)。 當(dāng)然，必須盡可能準確地獲得這些參數(shù)。 為了定義校準標準，必要擁有考慮了可能出現(xiàn)的全部非理想條件的等效電路。 羅德與施瓦茨的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀均配設(shè)有清晰的等效電路圖和建模功能，完全滿足這一需求，可以進行詳盡的參數(shù)設(shè)置。 
 
通過電氣延時、任意阻抗和損耗定義匹配
 
采用等效電路圖定義匹配，其中，考慮了寄生電感和寄生電容效應(yīng)
除了手動地定義校準套件之外，也可以通過文件方便地安裝校準套件 – 甚至可以采用其它提供商的 ASCII 碼文件進行安裝。 可以切換至其它提供商所使用的測量單元。
自動校準――快速、無錯誤、高精度
盡管 TOSM、TRM 和 TRL 等手動校準技術(shù)可用于多端口測量，但是比較耗時，出錯率高，并且校準裝置磨損嚴重。 羅德與施瓦茨提供同軸單端口和多端口校準所需的自動校準單元，該單元在連接后可立即進入工作狀態(tài)，不到30秒時間可完成201個測試點的四端口校準。
4.通信
系統(tǒng)設(shè)計有各種后面板連接器，用于支持：
? 通過遠程控制軟件控制儀表。
? 采用 R&S®NRP探頭進行直流電壓和功率測量
? 同步功能（例如，參考頻率、外部觸發(fā)器、掃描和觸發(fā)狀態(tài)指示等，用以直接、快速地與外部設(shè)備進行交互）。
? 掃描時間測量：USER CONTROL 端口的針腳 4 指示測量時間，與菜單“Trigger settings（觸發(fā)器設(shè)置）”中的設(shè)置相對應(yīng)（掃描、掃描段、測試點，或者部分測量）。 借助示波器，可以方便地監(jiān)控每一種情況下實際所需要的執(zhí)行時間。
 
接口 功能   
LAN 1 控制 R&S®ZVA 或者以 R&S®ZVA 為主機的子網(wǎng)。8 針 RJ-45 連接器   
LAN 2 控制 R&S®ZVA 或者以 R&S®ZVA 為主機的子網(wǎng)。8 針 RJ-45 連接器   
IEC-BUS R&S®ZVA 遠程控制   
PORT BIAS 經(jīng)由測試端口的內(nèi)部導(dǎo)體進行DC功率輸入，從而為放大器供電；每個RF端口提供一個輸入和一個熔斷器；BNC 連接器   
USB 標準 1.1 USB 雙端口（用于鼠標、鍵盤、打印機、存儲介質(zhì)等等）   
10 MHz REF 參考頻率 I/O：10 MHz參考頻率，可從外部設(shè)備輸入或者輸出至外部設(shè)備；BNC 連接器   
DC MEAS 測量輸入的DC 電壓和 PAE；輸入電壓范圍 ±1 V 和 ±10 V；Mini DIN 連接器，需使用電纜：R&S®ZV-Z71（選件）   
MONITOR 用于連接外部VGA 監(jiān)視器；標準 VGA 連接頭   
USER CONTROL TTL I/O信號：掃描狀態(tài)指示、合格/不合格指示、有源測試端口指示、占用信道數(shù)位指示有源信道、外部設(shè)備觸發(fā)信號的快速控制，例如發(fā)生器、與處理器握手、無編程序列控制；5 針D-Sub 連接器   
EXT TRIGGER 外部 TTL 觸發(fā)信號輸入，用于啟動掃描、掃描段、測試點或部分測量；BNC 連接器