價格
電議
型號
CS310H
品牌
所在地
上海市 閔行區(qū)
更新時間
2024-01-19 07:22:01
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核心參數(shù)
產(chǎn)品介紹
儀器簡介：
CS系列電化學工作站由高速MCU、高精度FET集成電路組成，內(nèi)置DDS數(shù)字信號合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以完成恒電流（位）極化、動電位（流）掃描、任意恒電流（位）方波，多恒電流（位）階躍、零電阻電流計、電化學噪聲（電偶電流）、電化學阻抗（EIS）等電化學測試等功能，所有測量功能均可定時自動進行，用于無人值守下的自動測量。
CS系列包括多種型號，可用于較大電流和較高槽壓的電化學測量和應用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±2A，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電流控制范圍：±2.0A；電流測量下限為1pA。
CS studio測試軟件是CS電化學工作站的控制平臺，軟件基于Windows98/ 2000/ XP/win7/8/10操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件設計規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實驗方法管理、多坐標圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學術語保持一致，全中文菜單和界面，方便用戶的教學和科研工作。
CS studio測試軟件還具有特別針對材料和腐蝕電化學的實驗方法，包括鈍化曲線自動或人工反掃，電化學再活化法，溶液電阻（IR降）測量和補償法。CS Studio分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能，可對伏安曲線進行數(shù)字平滑、積分、微分運算，能對極化曲線進行電化學參數(shù)解析，包括極化電阻Rp，Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，腐蝕速率計算等，還可計算噪聲電阻Rn和功率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
CS系列電化學工作站全部采用USB2.0接口與計算機通訊，設備安裝簡單，即插即用。
外形尺寸：36.5cm(寬)×30.5cm(深)×16cm(高) 儀器重量：6.5Kg
應用領域
1）研究電化學機理；物質的定性定量分析；
2）常規(guī)電化學測試，包括電合成、電鍍和電池性能評價；
3）功能材料和能源材料的機理和制備研究；
4）緩蝕劑、水質穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率快速評價以及氫滲測試等；
5）金屬材料在導電性介質（包括水/混凝土等環(huán)境）中的腐蝕電化學測試。
系統(tǒng)配置
每套工作站包括：
1) 儀器主機1臺；
2) CS studio測試與分析軟件1套；
3) 鉑金電極、參比電極、工作電極及電解池各1支（套）；
4) 模擬電解池1個；
5）USB數(shù)據(jù)線1條；
6) 電極電纜線/噪聲測量電纜線1組；
7）電極架（選配*）
8）屏蔽箱（選配*）
技術參數(shù)：
1、硬件參數(shù)指標
恒電位儀電位控制范圍：±10V
電流控制范圍：±2.0A
電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV
電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)
電位分辨率：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz)
電流分辨率：1pA
電位上升時間：<1μS(<10mA),<10μS(<2A)
輔助數(shù)據(jù)采集24位@100Hz,20bit@1KHz
參比電極輸入阻抗：1012歐姆||20pF
電流量程： 2nA～2A, 共10檔
槽壓：±21V
CV 和LSV掃描速度：0.001mV～10,000V/s
CA和CC脈沖寬度：0.0001～1000s
電位掃描時電位增量：0.1mV@1V/mS
SWV頻率：0.001～100KHz
DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s
AD數(shù)據(jù)采集：16位@1MHz,20bit @1kHz
CV的小電位增量：0.075mV
電位和電流測量低通濾波器
電流與電位量程：自動設置
接口通訊模式：USB2.0
2、電化學阻抗測量指標
信號發(fā)生器
頻率響應：10μHz～1MHz
交流信號幅值：1mV~2500mV
直流偏壓：-10~+10V
DDS輸出阻抗：50歐姆
波形：正弦波，三角波，方波
正弦波失真：<1%
掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降
大負載電容：1nF；大負載電感：10μH
信號分析器
積分時間：小值：10mS 或者一個循環(huán)的長時間
大值：106個循環(huán)或者105S
測量時間延遲：0~105秒
直流偏置補償
電位自動補償范圍：-10V~+10V
電流補償范圍：-1A~+1A
帶寬調(diào)整(Bandwidth)：自動或手動設置，共8級可調(diào)
CS Studio測量與控制軟件主要功能
功能方法
CS120H
CS150H
CS300H
CS310H
CS350H
穩(wěn)態(tài)極化
開路電位測量(OCP)
恒電位極化(i-t曲線)
恒電流極化
動電位掃描(TAFEL曲線)
動電流掃描(DGP)
暫態(tài)極化
任意恒電位階梯波
任意恒電流階梯波
恒電位階躍(VSTEP)
恒電流階躍(ISTEP)
計時分析
計時電位法(CP)
計時電流法(CA)
計時電量法(CC)
伏安分析
線性掃描伏安法(LSV)#
線性循環(huán)伏安法(CV)
階梯循環(huán)伏安法(SCV)#
方波伏安法(SWV)#
差分脈沖伏安法(DPV)#
常規(guī)脈沖伏安法(NPV)#
常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV)#
差分脈沖電流檢測法(DPA)
雙差分脈沖電流檢測法(DDPA)
三脈沖電流檢測法(TPA)
積分脈沖電流檢測法(IPAD)
交流伏安法(ACV)#
二次諧波交流伏安(SHACV)
傅立葉變換交流伏安(FTACV)
交流阻抗
電化學阻抗(EIS)～頻率掃描
電化學阻抗(EIS)～時間掃描
電化學阻抗(EIS)～電位掃描
腐蝕測量
循環(huán)極化曲線(CPP)
線性極化曲線(LPR)
動電位再活化法(EPR)
電化學噪聲(EN)
電偶腐蝕測量(ZRA)
氫擴散測試(HDT)*
電池測量
電池充放電測試
恒電流充放電
光電測量
電致調(diào)光測量*
光譜儀測量*
擴展測量
盤環(huán)電極測試*
數(shù)字記錄儀
注：*氫擴散及旋轉盤環(huán)電極測試需配置CS1002恒電位/恒電流儀或采用CS2350雙恒電位儀。
*光電測量功能用戶選配。
伏安分析中帶#號的方法包括相應的溶出伏安方法。
*產(chǎn)品3年質保