EN-3020B分立器件測(cè)試儀

概述：EN-3020B型分立器件測(cè)試儀是用于二極管、IGBT和MOSFET的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。系統(tǒng)的測(cè)試原理符合相應(yīng)的*標(biāo)準(zhǔn)、軍標(biāo)，系統(tǒng)為獨(dú)立式單元，封閉式結(jié)構(gòu)，具有升級(jí)擴(kuò)展?jié)撃堋?

系統(tǒng)特點(diǎn)：

功率源 3000V/200A

測(cè)試系統(tǒng)整體采用計(jì)算機(jī)操控

測(cè)試數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)記錄，并進(jìn)行 Excel 處理

采用脈沖法測(cè)試，脈寬為國(guó)軍標(biāo)

自動(dòng)化程度高（可按設(shè)定的程序自動(dòng)測(cè)試）

測(cè)試靈活（*應(yīng)對(duì)器件及多單元模塊測(cè)試）

Labview 平臺(tái)開(kāi)發(fā)，數(shù)據(jù)編輯處理功能強(qiáng)，菜單式，模塊化，人機(jī)友好設(shè)備操作簡(jiǎn)單、性能穩(wěn)定非常適合電氣，電子類廠商, 研究所做 IQC 來(lái)料檢驗(yàn)、器件選型，失效分析以及學(xué)校教學(xué)和軌道機(jī)車地鐵高鐵檢測(cè)使用。