西安長禾半導體技術有限公司功率器件測試實驗室(簡稱長禾實驗室)位于西安市高新技術經(jīng)濟開發(fā)區(qū)，是一家*從事功率半導體器件測試服務的高新技術企業(yè)，是*CNAS 認可實驗室，屬于*大功率器件測試服務中心。
長禾實驗室擁有*的系統(tǒng)設備、*的技術團隊和完善的服務體系。實驗室現(xiàn)有的測試儀器設備100余臺套，*測試人員20余名。我們緊跟國際國內標準，以客戶需求為導向，不斷創(chuàng)新服務項目和檢測技術，借助便利的服務網(wǎng)絡，為合作伙伴提供高效的技術服務。
長禾實驗室專注于功率半導體器件的動、靜態(tài)參數(shù)檢測、可靠性檢測、失效分析、溫循試驗、熱阻測試等領域的技術服務。業(yè)務范圍主要涉及國內軌道交通、風力發(fā)電、科研單位、軍工所、工業(yè)控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽車等行業(yè)。也是第三代半導體（寬禁帶半導體）應用解決方案服務商。
長禾實驗室秉承創(chuàng)新務實的經(jīng)營理念，為客戶提供的服務、完善的解決方案及全方位的技術支持；同時注重與行業(yè)企業(yè)、高校和科研所的合作與交流，測試技術與服務水平不斷提升。
誠信立世，感恩回饋，歡迎選擇長禾實驗室做您忠誠的合作伙伴，共謀發(fā)展大計！
長禾相關檢測標準
GJB360B 電子及電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗
GB/T 2423.11電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機振動--一般要求
GJB 360A 電子及電氣元件試驗方法
GJB 1420A 半導體集成電路外殼規(guī)范
GJB 128A 半導體分立器件試驗方法
GJB 3157 半導體分立器件失效分析方法和程序
GJB 3233 半導體集成電路失效分析程序和方法
GJB 548A 微電子器件試驗方法和程序
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GJB 5914 各種質量等級半導體器件破壞性物理分析方法
GJB128A 半導體分立器件試驗方發(fā)方法1071密封
GB/T17574半導體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路
GJB597A 半導體集成電路規(guī)范
GB/T6798半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理
GB/T4587半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管
GB/T4586半導體器件分立器件第8部分：場效應晶體管
GB/T 4023 半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管
GB/T2693 電子設備用固定電容器 *部分：規(guī)范
GB/T5729 電子設備用固定電阻器 *部分：規(guī)范
GJB1217A 電連接器試驗方法等。
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西安長禾半導體技術有限公司功率器件測試實驗室(簡稱長禾實驗室)位于西安市高新技術經(jīng)濟開發(fā)區(qū)，是一家*從事功率半導體器件測試服務的高新技術企業(yè)，是*CNAS 認可實驗室，屬于*大功率器件測試服務中心。
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