■  電壓范圍：0-5V；

       ■  量程范圍：0-50A/100A/200A/300A/400A/500A/600A/800A/1000A；
       ■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、恒壓放電、循環(huán)壽命、充電容量、放電容量、 DCIR（直流等效內(nèi)阻）等參數(shù)測試；

       ■  充轉(zhuǎn)放無縫切換，無過充過放；

       ■  采樣&通訊傳輸間隔高達(dá)1ms，完全真實還原測試過程數(shù)據(jù)；

       ■  功能豐富的上位軟件，支持生產(chǎn)分選功能；
       ■  每通道對應(yīng)狀態(tài)指示燈，分選更方便；

       ■  強大的數(shù)據(jù)存儲與分析功能；

       ■  百兆以太網(wǎng)通訊；

容量測量 

     N5800可測量級電容容量參數(shù)，含充電容量和放電容量。測試方法為： 對被測級電容以恒定電流進行充（放）電，在充（放）電過程中記錄時 間和電壓參數(shù)，通過計算充（放）電過程中電壓對時間的斜率計算容量。 用戶可根據(jù)IEC等各種測量標(biāo)準(zhǔn)自行選擇電壓、時間參數(shù)進行計算。

充電容量計算公式：

放電容量計算公式： 

其中：Ur表示額定電壓 U1表示充電容量計算起始電壓 

          U2表示充電容量計算截止電壓 U3表示放電容量計算起始電壓

          U4表示放電容量計算截止電壓 

          I1表示充電電流

          I2表示放電電流 

等效串聯(lián)內(nèi)阻(DCIR)測試 

      N5800具有豐富的直流內(nèi)阻測量功能，支持業(yè)內(nèi)多種主流DCIR測試方法： 多脈沖法、單脈沖法、充轉(zhuǎn)放法、六步測試法、IEC測試法，可滿足絕大部 分用戶測試需求。NGI核心測試技術(shù)確保在各種測試方法中獲取高精度內(nèi)阻 測量結(jié)果。

IEC法直流等效內(nèi)阻計算公式：

      N5800可通過重復(fù)充放電循環(huán)測試，測量級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取級電容在不同應(yīng)用環(huán)境下的預(yù)計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標(biāo)。壽命測試結(jié)果可用于指導(dǎo)材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。 

      采用精密的設(shè)計電路，保證充放電過程快速，。充電過程中恒流充點轉(zhuǎn)恒壓充電無過充，能*的保護被測產(chǎn)品，防止由于過程導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)或樣品損毀等情況。恒壓充電轉(zhuǎn)恒流無縫切換，結(jié)合1ms高速采樣，完全真實還原出產(chǎn)品測試過程，滿足用戶測試QC/T741、六步法、充轉(zhuǎn)放法對直流等效內(nèi)阻（DCIR）的測試要求。 

(4) 采用全屏蔽技術(shù)，對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應(yīng)性，有效提高了負(fù)載抗干擾能力。