Thick800A鍍層測厚儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分濃度測定。 Thick800A系列X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變?yōu)槟M電信號；經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。 它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

2、性能優(yōu)勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求 小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求 高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自動定位測試高度 定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊 鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點 高分辨率探頭使分析結果更加* 良好的射線屏蔽作用 測試口高度敏感性傳感器保護

3、技術指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 一次可同時分析多達五層鍍層 薄可測試0.005μm 分析含量一般為2ppm到99.9% 鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同） 任意多個可選擇的分析和識別模型 相互獨立的基體效應校正模型 多變量非線性回收程序 長期工作穩(wěn)定性高 度適應范圍為15℃至30℃ 電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源 儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm 重量：90 kg

4、測試實例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。 以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。

銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖

銅鍍鎳件測試值

結論

實驗表明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結果準確度高，速度快（幾十秒），其測試效果完全可以和顯微鏡測試法媲美。

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