溫升測(cè)試箱，又叫溫升測(cè)試罩。是尼普科技公司依據(jù)電子連接器EIA-364-70B測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)。是依標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定為各種連接器、接線端子、線束、小的接插件等進(jìn)行溫升測(cè)試時(shí)，提供符合標(biāo)準(zhǔn)要求的環(huán)境條件下隔絕周圍空氣對(duì)流造成的溫度影響而設(shè)計(jì)的保護(hù)罩。依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-70B,GB4706.1/IEC60335-1第11章“發(fā)熱”.

根據(jù)GB/T5095.1~9和IEC512-1~512-9中2.31.規(guī)定，測(cè)量溫升應(yīng)盡可能在靜止的空氣中進(jìn)行，試驗(yàn)樣品安裝在封閉盒內(nèi)，以免空氣流動(dòng)影響附近的環(huán)境。

尼普科技依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)為客戶訂制不同的測(cè)試箱（測(cè)試罩）。

測(cè)試樣品放在測(cè)試箱內(nèi)的耐高溫電木板上進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試箱依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)。