溫升測試箱，又叫溫升測試罩。是尼普科技公司依據電子連接器EIA-364-70B測試標準而設計。是依標準規(guī)定為各種連接器、接線端子、線束、小的接插件等進行溫升測試時，提供符合標準要求的環(huán)境條件下隔絕周圍空氣對流造成的溫度影響而設計的保護罩。依據標準：EIA-364-70B,GB4706.1/IEC60335-1第11章“發(fā)熱”.

根據GB/T5095.1~9和IEC512-1~512-9中2.31.規(guī)定，測量溫升應盡可能在靜止的空氣中進行，試驗樣品安裝在封閉盒內，以免空氣流動影響附近的環(huán)境。

尼普科技依據標準為客戶訂制不同的測試箱（測試罩）。

測試樣品放在測試箱內的耐高溫電木板上進行測試。測試箱依據標準進行設計。