膜厚儀EDX-8000T Plus型XRF鍍層測(cè)厚儀/電鍍液分析儀Simply The Best >微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì)，可分析不規(guī)則樣品厚度

>高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器 (SDD) 可實(shí)現(xiàn)快速，無(wú)損，高精度測(cè)量

>高分辨率樣品觀測(cè)系統(tǒng)，可移動(dòng)高精度樣品平臺(tái)，準(zhǔn)確快速定位測(cè)試點(diǎn)位 >全系列標(biāo)配薄膜FP無(wú)標(biāo)樣分析法軟件，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及單鍍層厚度和材料成分進(jìn)行測(cè)量 >搭載高精度手調(diào)X-Y平臺(tái)，使微區(qū)測(cè)量更便捷