*納米壓痕儀iNano Nanomechanics Inc.(美國納米力學(xué)公司)專門從事納米傳感器的設(shè)計,測試技術(shù),數(shù)據(jù)采集,系統(tǒng)集成,軟件開發(fā)。 致力于提高納米測試技術(shù),力和位移的測量,以及材料的力學(xué)性能評價。通過測試技術(shù)和數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)的研究與開發(fā),設(shè)計和制造,為全球客戶提供納米力學(xué)實驗和數(shù)據(jù)分析。 iNano 能輕松的為客戶提供準(zhǔn)確的、高精度的、可重復(fù)的數(shù)據(jù)。 iNano設(shè)計精巧,占用空間小,能在2小時內(nèi)為目前幾乎所有材料提供測試數(shù)據(jù)。
特點 易用性: iNano旨在為實驗室技術(shù)人員和研究人員提供一個易于使用的測試設(shè)備,應(yīng)用于他們的材料和產(chǎn)品。從其磁性樣品加載系統(tǒng)的軟件,iNano使實驗和測試變得簡單,從而也能夠適應(yīng)有著高使用頻率的工廠用戶。通過簡化復(fù)雜的測試設(shè)置和軟件交互iNano可以向用戶提供市場上*的測量數(shù)據(jù)。iNano是提供納米壓痕數(shù)據(jù)模型的設(shè)備。
iNano功能: 高性能:可以向用戶提供規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn),同時也能達到工業(yè)級的使用規(guī)范和性能?;?00千赫的20微秒的數(shù)據(jù)采集速度,可以給客戶提供**的數(shù)據(jù)和做多數(shù)據(jù)點的動態(tài)實驗。50mN和50um的位移,可以滿足多樣化的實驗需求和*廣泛的應(yīng)用范圍。
靈活的應(yīng)用程序:我們的客戶,無論在工業(yè)實驗室還是在學(xué)術(shù)研究中iNano提供了廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域包括: · 膜薄涂層和表面處理 · 金屬、陶瓷和聚合物 · 復(fù)合材料 · 生物材料 · MEMS和Nanostuctures
多用途工具: 考慮到靈活性iNano提供廣泛的測試模型包括但不限于: · 模量和硬度(Oliver和法爾模型) · 動態(tài)機械A(chǔ)nalyis(直接存儲器存取屬性) · 存儲和損耗模量 · 恒應(yīng)變速率和恒加載速率 穩(wěn)健設(shè)計: iNano高性能的元器件、*嚴謹?shù)墓I(yè)設(shè)計、極強的抗干擾能力造就*精密穩(wěn)定的納米力學(xué)測試系統(tǒng)?;趶姶蠛涂煽康臏y試系統(tǒng)iNano支持不間斷的測試極大程度發(fā)揮儀器的使用性能。穩(wěn)定的鋼性結(jié)構(gòu)、的控制系統(tǒng)和可靠的軟件設(shè)計可實現(xiàn)高精度的實驗和穩(wěn)定的測試結(jié)果。 產(chǎn)品規(guī)格: 位移測量 電容位移傳感器 壓頭位移范圍 50um 位移分辨率 0.02nm 噪音水平 小于0.1nm 加載模式 電磁力加載 *載荷 50mN 載荷分辨率 3nN 數(shù)據(jù)采集速率 100kHz 閉環(huán)CPU控制速度 500Hz
其他推薦產(chǎn)品
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*納米壓痕儀iNano Nanomechanics Inc.(美國納米力學(xué)公司)專門從事納米傳感器的設(shè)計,測試技術(shù),數(shù)據(jù)采集,系統(tǒng)集成,軟件開發(fā)。 致力于提高納米測試技術(shù),力和位移的測量,以及材料的力學(xué)性能評價。通過測試技術(shù)和數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)的研究與開發(fā),設(shè)計和制造,為全球客戶提供納米力學(xué)實驗和數(shù)據(jù)分析。 iNano 能輕松的為客戶提供準(zhǔn)確的、高精度的、可重復(fù)的數(shù)據(jù)。 iNano設(shè)計精巧,占用空間小,能在2小時內(nèi)為目前幾乎所有材料提供測試數(shù)據(jù)。
特點 易用性: iNano旨在為實驗室技術(shù)人員和研究人員提供一個易于使用的測試設(shè)備,應(yīng)用于他們的材料和產(chǎn)品。從其磁性樣品加載系統(tǒng)的軟件,iNano使實驗和測試變得簡單,從而也能夠適應(yīng)有著高使用頻率的工廠用戶。通過簡化復(fù)雜的測試設(shè)置和軟件交互iNano可以向用戶提供市場上*的測量數(shù)據(jù)。iNano是提供納米壓痕數(shù)據(jù)模型的設(shè)備。
iNano功能: 高性能:可以向用戶提供規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn),同時也能達到工業(yè)級的使用規(guī)范和性能。基于100千赫的20微秒的數(shù)據(jù)采集速度,可以給客戶提供**的數(shù)據(jù)和做多數(shù)據(jù)點的動態(tài)實驗。50mN和50um的位移,可以滿足多樣化的實驗需求和*廣泛的應(yīng)用范圍。